[发明专利]板级样品试验系统及试验方法在审

专利信息
申请号: 202111488778.8 申请日: 2021-12-07
公开(公告)号: CN114355076A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 李键坷;雷志锋;张战刚;何玉娟;彭超;黄云;路国光;谭旭 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01R1/18
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴辉燃
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种板级样品试验系统及试验方法,屏蔽体用于屏蔽辐射,屏蔽体内设有试验空间,屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体,样品放置台包括基座及样品夹具,样品夹具用于固定样品,样品夹具与基座可拆卸连接,基座设于试验空间内,基座能够带动样品夹具分别沿第一方向、第二方向移动,第一方向及第二方向呈夹角设置。可在屏蔽体外将样品固定于样品夹具上,随后将样品夹具送入试验空间内,在基座上沿第一方向或第二方向对样品的位置进行调整,操作人员可撤出试验空间外,对样品进行辐射试验,可减少操作人员在试验空间内的停留时间,能够减少辐射试验对人体的伤害,具有更好的安全性。
搜索关键词: 样品 试验 系统 方法
【主权项】:
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