[发明专利]卷对卷超导带材转弯直径测试装置和方法有效
| 申请号： | 202111502876.2 | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN114184399B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 朱佳敏;陈思侃;李小汾;陈怡文;陈永春;盛杰;张超;甄水亮;丁逸珺 | 申请（专利权）人： | 上海超导科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M17/06 | 分类号： | G01M17/06 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 牛山 |
| 地址： | 201207 上海市浦东新区自由*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种卷对卷超导带材转弯直径测试装置和方法，包括：待测超导带材卷绕在带材转弯直径测试部分上；临界电流测量部分采集待测超导带材的电压信息或磁场强度信息；向待测超导带材提供时变电流，以及通过临界电流测量部分采集对应时刻下的电压信息或磁场强度信息；根据得到的电压信息或磁场强度信息，得到待测超导带材在对应转弯直径下的临界电流值；在临界电流值的退化不超过预设值的情况下，最小的转弯直径即为待测超导带材的临界转弯直径。本发明能够快速有效的测到真正转弯直径。 | ||
| 搜索关键词： | 超导 转弯 直径 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海超导科技股份有限公司，未经上海超导科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111502876.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
