[发明专利]一种信息技术芯片测试装置在审
| 申请号： | 202111504041.0 | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN114184938A | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 谭文静 | 申请（专利权）人： | 谭文静 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及信息技术领域，为了解决现有的芯片测试装置在使用时无法准确的对测试处进行测温的问题，公开了一种信息技术芯片测试装置，包括壳体和放置件，以及通过第三伸缩件活动设置在壳体内部的测试部件，用于对放置件上放置的芯片进行测试，还包括抽真空机构，用于对芯片进行吸附固定。本发明对芯片的测试的同时连接部件与第二活动部件磁吸连接，测试部件在芯片上水平移动进行测试时，通过连接部件带动第二活动部件和第一活动部件随测试部件的移动轨迹而移动，此时与第一活动部件相互磁吸的活动座随之水平移动，从而使得测温部件在空腔的内部随测试部件的移动而实现，可在对芯片不同位置进行测试时精准的测量测试温度，使用方便准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 信息技术 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于谭文静，未经谭文静许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111504041.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
