[发明专利]一种微柱面透镜阵列的检测装置和方法有效

专利信息
申请号: 202111507267.6 申请日: 2021-12-10
公开(公告)号: CN114252243B 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 徐富超;李云;林妩媚;谢强 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所;成都同力精密光电仪器制造有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B11/24
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 江亚平
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种微柱面透镜阵列的检测装置和方法,该装置包括微柱面透镜阵列(101),工装(102),绕Z轴的旋转台(201),沿X轴和Y轴的二维平移台(202),Z轴方向高度接触测量设备(203)和计算机(204)。通过工装(102)特征的测试,准确快速调整微柱面透镜阵列(101)的位置,微柱面透镜阵列(101)的测试能精确沿母线的垂直方向。通过对微柱面透镜阵列(101)测试数据的多单元联合处理,能快速准确获得微柱面透镜阵列(101)的曲率半径、周期和面形误差。
搜索关键词: 一种 柱面 透镜 阵列 检测 装置 方法
【主权项】:
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