[发明专利]一种抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法在审

专利信息
申请号: 202111507829.7 申请日: 2021-12-10
公开(公告)号: CN114184839A 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 付江铎;杨中;宋佳音;杨浩涵;陈文亚;黄一斌;樊晓华 申请(专利权)人: 江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16;G01R31/28
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 郭慧
地址: 214000 江苏省无锡市新吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,其无需大量复杂运算即可实现ADC高精度测试,可抑制信号源抖动,该方法包括:基波识别、基波替代两部分,基波识别包括:采集ADC的输出数据,对输出数据进行分段化处理,计算出每段中输出数据的初始相位,基于初始相位,得到输出数据的幅度漂移量的估计值,并在每段中使用线性方程对幅度漂移量进行拟合,估计出带漂移的基波分量;基波替代包括:重新构建一个幅度稳定的基波成分,利用该基波对漂移的基波分量进行替换,获取新的数据,并选择合适的窗函数对新的数据进行加窗处理,对加窗处理后的新的数据进行频谱分析,获得待测ADC动态参数。
搜索关键词: 一种 抑制 信号源 抖动 adc 频谱 测试 方法
【主权项】:
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