[发明专利]航天器热控回路集成电性能测试系统、方法及介质在审
| 申请号： | 202111518353.7 | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN114325100A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 韩杰;陆卫华;李晓东;周莉;袁定一;华孝栋;唐岚 | 申请（专利权）人： | 上海卫星装备研究所 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R31/01 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 牛山 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种航天器热控回路集成电性能测试系统、方法及介质，涉及卫星检测技术领域，该方法包括：上位机、测试主机、锂电池及测试转接电缆；所述测试主机分别连接所述上位机、锂电池和测试转接电缆；所述锂电池为测试主机供电；所述测试主机通过测试转接电缆与待测产品构成测试回路。本发明能够提高测试效果和测试效率，降低工作人员劳动强度的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 航天器 回路 集成 性能 测试 系统 方法 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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