[发明专利]一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202111520877.X | 申请日： | 2021-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN113920117B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数联云算科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/73;G06T3/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 王志 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及人工智能领域，揭露一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取面板图像及预先在所述面板图像中设置的查找区域；标记所述面板图像的定位区域，并识别所述定位区域的定位坐标；根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，并对所述相似区域进行仿射变换，得到目标区域；将所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，得到所述面板图像的待检测区域；将所述待检测区域与预设的标准区域进行缺陷差分处理，得到差分图像，根据所述差分图像，识别所述待检测区域的缺陷区域。本发明可以实现面板缺陷区域的快速定位，提高面板缺陷区域的检测通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 缺陷 区域 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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