[发明专利]多芯片封装结构在审
申请号: | 202111531351.1 | 申请日: | 2021-12-15 |
公开(公告)号: | CN116153874A | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 刘译淇 | 申请(专利权)人: | 力智电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/29;H01L25/07 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 宋兴;臧建明 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种多芯片封装结构,包括第一半导体芯片、第二半导体芯片、导电件、绝缘接合层以及封装材料。第一半导体芯片为倒晶配置且具有第一表面与第二表面,第一表面具有第一电极,第二表面具有第二电极与第三电极,第一表面上具有背金属层电连接第一电极。第二半导体芯片包括第二金氧半导体组件,且具有第三表面,第三表面具有第四电极。导电件配置于背金属层上,电连接背金属层与第四电极。部分的背金属层不被导电件覆盖从而形成多个暴露部。绝缘接合层设置于至少部分的暴露部上。封装材料覆盖绝缘接合层及至少部分的导电件。本发明可减少分层现象,让多芯片封装结构具有更好的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 结构 | ||
【主权项】:
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