[发明专利]Z型扫描床位置精度的校正方法、存储介质及终端设备在审
| 申请号： | 202111541758.2 | 申请日： | 2021-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN114391861A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 陈浩维 | 申请（专利权）人： | 纳米维景（上海）医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海得民颂知识产权代理有限公司 31379 | 代理人： | 陈开山 |
| 地址： | 201318 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种Z型扫描床位置精度的校正方法、存储介质及终端设备。本发明的Z型扫描床位置精度的校正方法，包括以下步骤：S1、获取扫描床的竖直高度信息；S2、根据所述竖直高度信息，获取精调信息；S3、获取相对高度信息；S4、根据所述精调信息和所述相对高度信息，生成校正信息。本发明的Z型扫描床位置精度的校正方法提供了更高效、更准确的位置校正方法，以提高位置的校正精度，进而提高CT机的成像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 床位 精度 校正 方法 存储 介质 终端设备 | ||
【主权项】：
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