[发明专利]一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置及使用方法在审

专利信息
申请号: 202111544284.7 申请日: 2021-12-16
公开(公告)号: CN114152832A 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 诸葛霞;朱仁祥;楼建明 申请(专利权)人: 宁波工程学院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R29/08
代理公司: 亳州速诚知识产权代理事务所(普通合伙) 34157 代理人: 黄新春
地址: 315000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及电子设备技术领域,具体涉及一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置及使用方法,包括壳体,所述壳体一端滑动连接有盒体,所述壳体一侧开设有第一出口。本发明中,通过将吸波板涂上背胶卡入L型卡槽内部,将第一出口处的抽出机构与驱动机构连接并与墙面保持一定距离,而后推动壳体并利用移动机构使盒体向壳体移动,启动驱动机构,第一出口处抽出机构将吸波板拉出第一出口与墙面进行贴附,待墙面吸波板全部贴附完毕后,将第二出口内部的抽出机构与驱动机构相连,启动驱动机构,第二出口处的抽出机构将吸波板拉出第二出口与天花板进行粘附,从而使使用人员可以快速布置出合适的电波暗室,进行射频电磁场辐射抗扰度测试。
搜索关键词: 一种 电子设备 射频 电磁场 辐射 抗扰度 测试 装置 使用方法
【主权项】:
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