[发明专利]一种智能卡多功能测试方法及装置在审
申请号: | 202111548925.6 | 申请日: | 2021-12-17 |
公开(公告)号: | CN114372482A | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 李超;苏昆;胡瑞璟;董逢华 | 申请(专利权)人: | 武汉天喻信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 代婵 |
地址: | 430223 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种智能卡多功能测试方法及系统,包括读卡器和PC,所述读卡器具有接触界面和非接触界面,并设置有对应的接触端口和非接触端口,方法包括步骤1,当智能卡插入读卡器接触界面时,PC端自动选择接触端口,进入接触模式;当智能卡插入读卡器接触界面时,PC端通过指令设置接触界面为掉电状态,并使用指令选择非接触端口,从而在智能卡插入接触界面时进入非接触式模式;当智能卡在读卡器非接触界面时,PC端自动选择非接触端口,从而进入非接触式模式;步骤2,在接触模式或非接触模式下进行防拔测试、性能测试和跟踪测试。本发明集成非接和接触智能卡两种测试于一体,并能自动切换接触模式或非接触模式,完成种类较多的多样化测试,并且成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 一种 智能卡 多功能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉天喻信息产业股份有限公司,未经武汉天喻信息产业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111548925.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。