[发明专利]一种X光射线光源在X光机检测仪中的衰减检测方法在审
| 申请号： | 202111570998.5 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN114354659A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 林毅宁 | 申请（专利权）人： | 昆山善思光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 徐州迈程知识产权代理事务所(普通合伙) 32576 | 代理人： | 胡建豪 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种X光射线光源在X光机检测仪中的衰减检测方法，通过计算给定的圆锥体半径，及时发现X射线源已经衰弱至影响图形算法的程度，并及时告知操作人员适当的修改图形算法的参数或者及时更换新的X射线源，防止不恰当的图形算法参数导致判断结果不准确从而将不良品流入到后续生产中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 光源 检测 中的 衰减 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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