[发明专利]一种多速率可调节采样率频率的测量ASIC芯片在审

专利信息
申请号: 202111573227.1 申请日: 2021-12-21
公开(公告)号: CN114384405A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 夏国明;赵广胜;赵阳;施芹;裘安萍 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 汪清
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种多速率可调节采样率频率测量ASIC芯片,包括:周期计数模块,用于将被测硅微谐振式加速度计的模拟振荡信号F同步到晶振提供的基准时钟clk,用基准时钟对同步后的模拟振荡信号进行计数后输出计数值N;非线性补偿模块,用于将计数值N转化为和频率的平方成正比的定点数M,然后和输入振荡信号F对齐,后输出对齐后的定点数Dout;任意采样率调节模块,用于调节输出定点数Dout的采样率,实现任意采样率的输出最终的定点值Dout3;数字接口模块,用于和上位机通信,包括配置寄存器和将数据输出到上位机。本发明能够实现硅微谐振式加速度计数字化输出,解决了硅微谐振式加速度计输出非线性的问题。
搜索关键词: 一种 速率 调节 采样率 频率 测量 asic 芯片
【主权项】:
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