[发明专利]发热体的加热温度校准方法、装置及可读存储介质有效
| 申请号： | 202111575655.8 | 申请日： | 2021-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN114253317B | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 吴亚军;刘才学;莫和臣 | 申请（专利权）人： | 深圳市基克纳科技有限公司 |
| 主分类号： | G05D23/24 | 分类号： | G05D23/24 |
| 代理公司： | 深圳市欣亚知识产权代理事务所(普通合伙) 44621 | 代理人： | 葛勤;程光慧 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种发热体的加热温度校准方法、装置及可读存储介质，其中，该发热体的加热温度校准方法包括：在对待测发热体进行测试加热时，获取所述待测发热体进行测试加热的初始测试温度；确定所述初始测试温度与所述待测发热体的预期温度是否存在温度差值；如果所述初始测试温度与预期温度存在温度差值，则根据所述温度差值对所述待测发热体的发热功率进行调整，以使所述待测发热体的调整测试温度与预期温度相适配。本发明的技术方案能够自动校准待测发热体的初始测试温度，无需人工参与，能够提高待测发热体的加热温度的校准效率及稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 发热 加热 温度 校准 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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