[发明专利]半导体工艺设备及其排气系统在审
申请号: | 202111581437.5 | 申请日: | 2021-12-22 |
公开(公告)号: | CN114267615A | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 王立卡;石磊 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;王婷 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请实施例提供了一种半导体工艺设备及其排气系统。该排气系统包括:切换装置、第一控压机构及第二控压机构;切换装置与工艺腔室连接,并且与第一控压机构及第二控压机构连接;第一控压机构的第一控压管路与切换装置连接,用于对工艺腔室排气;第一控制器设置于第一控压管路上,用于在第一控压管路排气时控制工艺腔室保持在第一压力;第二控压机构的第二控压管路与切换装置连接,用于对工艺腔室排气;第二控制器设置于第二控压管路上,用于在第二控压管路排气时控制工艺腔室保持在第二压力,并且第二压力大于第一压力。本申请实施例使得工艺腔室能够至少保持在两种压力状态下,从而提高了本申请实施例适用性及适用范围。 | ||
搜索关键词: | 半导体 工艺设备 及其 排气 系统 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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