[发明专利]一种利用离子束溅射沉积制备薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 202111584469.0 申请日: 2021-12-23
公开(公告)号: CN114231933A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 任斌;何东旺 申请(专利权)人: 江苏籽硕科技有限公司
主分类号: C23C14/46 分类号: C23C14/46;C23C14/02
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 韩睿
地址: 225300 江苏省泰州市医药高新技术产业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种利用离子束溅射沉积制备薄膜的方法,涉及离子束技术领域,包括以下步骤:步骤S1:准备,溅射壳准备;作业物件准备:靶台、金属靶材、氮离子源、衬底,工件台和挡板;步骤S2:预处理,物件清洗;衬底清洗;衬底表面处理;步骤S3:安装,将溅射壳进行固定;将所述步骤S2中的物件在所述溅射壳内进行安装;步骤S4:启动,用真空泵对所述溅射壳进行抽真空;驱动并打开氮离子源的电源;步骤S5:制膜;步骤S6:检验。本发明具备了通过开合挡板可对靶材进行表面的处理,以提高后续在衬底上的成膜质量,通过离子束溅射沉积工艺制成的薄膜具有均匀程度高、表面较为光滑,光学性质稳定的效果。
搜索关键词: 一种 利用 离子束 溅射 沉积 制备 薄膜 方法
【主权项】:
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