[发明专利]一种基于阵列移动获得无孔差阵的均匀采样方法在审

专利信息
申请号: 202111588281.3 申请日: 2021-12-23
公开(公告)号: CN114325564A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 马鹏辉;李建峰;潘晶晶;张小飞 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 唐少群
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于阵列移动获得无孔差阵的均匀采样方法,包括:求阵列差共阵中元素位置集合并记录元素间最大间隔的长度h在当前时刻t进行采样,记录此时的阵列输出数据;随着阵列的移动,依次在时刻t+d/v,t+2d/v,...,处进行采样;将采样数据进行合成,得到合成阵列的输出;利用空间平滑类子空间方法对合成阵列的输出进行处理,即可得到相比于原始阵列精度更高的DOA估计值。本发明能够充分利用阵列的移动特性,结合在特定点进行采样获得的阵列输出,得到差阵完全连续的、自由度更高、估计效果更好的合成阵列。
搜索关键词: 一种 基于 阵列 移动 获得 无孔差阵 均匀 采样 方法
【主权项】:
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