[发明专利]一种RF芯片的FT测试系统及方法在审
| 申请号： | 202111610401.5 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN114325318A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 王建钦;吴鑫龙;陈榕;朱陈星 | 申请（专利权）人： | 厦门科塔电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人： | 罗恒兰 |
| 地址： | 361000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种RF芯片的FT测试系统，其包括MCU模块、信号源模块、TP模块、待测芯片、Power Detector、DC测试机；所述DC测试机与MCU模块通信连接，用于向MCU模块传输控制指令；所述MCU模块与TP模块、信号源模块连接，该MCU模块根据DC测试机传输的控制指令向TP模块输出数字逻辑信号和低频时钟信号，以及向信号源模块输出数字逻辑信号以控制信号源模块的开关和输出信号的频率。本发明能够无需使用专用的RF芯片测试机台，即可进行RF芯片的FT测试工作，能够在保证测试准确性的前提下，节省大量的资金和时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 rf 芯片 ft 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门科塔电子有限公司，未经厦门科塔电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111610401.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
