[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202111613077.2 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN114966352A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 长谷川宏太郎;宫内康司;歌丸刚 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀锋 |
| 地址： | 日本东京千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明所要解决的问题在于，利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性，所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光，并以另一个受光，使用通过光电效应所输出的电流的电流值，来检查LED的光学特性。为了解决上述问题，本发明提供一种试验装置，具备：电性连接部，其电性连接至成为试验对象的复数个发光元件各自的端子；光源部，其对复数个发光元件一并照射光；电性测定部，其测定光电信号，所述光电信号是复数个发光元件分别对从光源部照射的光进行光电转换后而得的；发光控制部，其使成为发光处理的对象的至少一个发光元件发光；光测定部，其对成为发光处理的对象的至少一个发光元件发出的光进行测定；及判定部，其基于电性测定部的测定结果及光测定部的测定结果，来判定复数个发光元件各自的良否。 | ||
| 搜索关键词： | 试验装置 试验 方法 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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