[发明专利]一种ODT校准方法、计算机设备及存储介质有效
| 申请号： | 202111626079.5 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN114420195B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 刘孜 | 申请（专利权）人： | 深圳市晶存科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 俞梁清 |
| 地址： | 518048 广东省深圳市福田区福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ODT校准方法、计算机设备及存储介质，该方法包括：获取初始阻值和总校准次数；获取当前校准次数；根据初始阻值与当前校准次数确定ODT的目标阻值；根据目标阻值进行Training动作，并记录与目标阻值对应的运行指标；当当前校准次数大于所述总校准次数，根据运行指标从多个目标阻值中选出最终阻值作为ODT的校准后阻值。本发明提供的方法，通过动态调节ODT值实现自动校准ODT，能够自动调节存储器所需的ODT值。相较固定ODT值而言，ODT自动校准能有效解决芯片一致性差问题，不同内存芯片在同一SoC系统上，和同一内存芯片在不同SoC系统上的适配和兼容性问题，也可改善因ODT值设置不对导致的机器死机问题，减少开发人员调试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 odt 校准 方法 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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