[发明专利]一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 202111640214.1 | 申请日： | 2021-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN114328053A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 薛海卫;雷志军 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26;G01T1/29 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨强;杨立秋 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法，试验主控制板对被测微处理器电路进行初始化测试程序、被测电路运行测试程序、示波器监测被测电路端口状态、主控制板串口读取被测电路辐照前后数值及状态并比较、辐照后被测电路运行算法及数据收发通信程序等；所述被测微处理器电路瞬态剂量率合格判定方法包括闩锁判定方法、翻转判定方法及端口电压判定方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微处理器 瞬态 剂量率 辐照 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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