[发明专利]硅量子点光伏异质结制备方法在审

专利信息
申请号: 202111641234.0 申请日: 2021-12-29
公开(公告)号: CN114497275A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 唐利斌;方莉媛;张玉平;项金钟 申请(专利权)人: 昆明物理研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/109;C23C14/16;C23C14/35;C23C14/58
代理公司: 昆明祥和知识产权代理有限公司 53114 代理人: 和琳
地址: 650000 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 硅量子点光伏异质结制备方法,涉及光电技术领域,尤其是一种硅量子点薄膜的制备技术。本发明的方法采用射频磁控溅射高纯石墨,直流磁控溅射n型硅共溅射在衬底上,溅射后退火处理形成硅量子点光伏异质结薄膜。与现有制备技术相比,本发明采用的是低成本的磁控溅射法制备硅量子点薄膜,很好的降低了制备成本、绿色环保、且薄膜可控性强、均匀性好。通过选择合适的半导体衬底材料,即可制备成具有光伏特性的硅量子点异质结,在光电子领域具有很大的应用前景。
搜索关键词: 量子 点光伏异质结 制备 方法
【主权项】:
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