[发明专利]覆盖率融合方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111643969.7 | 申请日： | 2021-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN114356683A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 索健;王正 | 申请（专利权）人： | 北京爱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人： | 刘戈 |
| 地址： | 100080 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种覆盖率融合方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括：基于待验芯片的目标验证计划，生成待验芯片中各模块的测试用例，测试用例包括低功耗测试用例以及非低功耗测试用例；根据各测试用例进行测试仿真处理，得到多个测试数据；将多个测试数据输入验证平台，得到各模块的覆盖率报告，覆盖率报告存储在不同路径，覆盖率报告包括低功耗覆盖率报告以及非低功耗覆盖率报告；通过预设的融合工具对各模块的覆盖率报告进行融合处理，得到目标覆盖率报告。本申请实施例本方案可以通过融合工具将低功耗测覆盖率报告以及非低功耗测覆盖率报告融合到一起，得到的目标覆盖率报告可以反应完整的全芯片覆盖率情况。 | ||
| 搜索关键词： | 覆盖率 融合 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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