[发明专利]一种应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法有效
| 申请号： | 202111649618.7 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114002665B | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 胡伟东 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01S13/34 | 分类号： | G01S13/34;G01S7/41 |
| 代理公司： | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人： | 刘戈 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例中提供了一种应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法，该方法包括：根据测试频率以及目标尺寸，计算目标的经典远场条件；结合测试场所的测试距离，计算合适的目标缩比比例及所述目标缩比比例下对应的测试频率；根据所述目标缩比比例，加工目标缩比模型；利用太赫兹超宽带雷达对缩比模型进行测试，得到缩比目标远场条件下的RCS；以及根据缩比原理，修正结果得到实际测试频率下的等效远场目标RCS。通过本公开的处理方案，显著降低大型目标RCS测量的距离，从而节约成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用 赫兹 测量 等效 rcs 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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