[发明专利]用于对寄存器进行验证的方法及装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202111654090.2 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114297965A | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 张芬 | 申请（专利权）人： | 北京紫光芯能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33;G06F21/60 |
| 代理公司： | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人： | 陶俊洁 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区王庄路1*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及寄存器验证技术领域，公开一种用于对寄存器进行验证的方法，包括：获取寄存器对应的寄存器参数和访问权限；根据寄存器参数和访问权限生成验证激励；按照验证激励对寄存器进行验证，获得验证结果。这样，能够自动对寄存器进行验证，不需要人工对寄存器进行验证，提高了对寄存器进行验证的效率。本申请还公开一种用于对寄存器进行验证的装置、电子设备、存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 寄存器 进行 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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