[发明专利]连续旋转旋进电子衍射断层扫描的方法在审
| 申请号： | 202111657062.6 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114441572A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 孙俊良;沈弈寒;孙文甲;刘扬;周钲洋 | 申请（专利权）人： | 苏州青云瑞晶生物科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 常州市权航专利代理有限公司 32280 | 代理人： | 张佳文 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 三维电子衍射已逐渐成为人们探索微观世界的强有力的工具，本文中，我们展示了一种新的三维电子衍射数据收集方法，命名为连续旋转旋进电子衍射断层扫描（Continuous Precession Electron Diffraction Tomography,cPEDT），该方法是旋进电子衍射断层扫描（Precession Electron Diffraction Tomography,PEDT）与连续旋转电子衍射（Continuous Rotation Electron Diffraction,cRED）的结合。使用cPEDT的方法，可以避免PEDT方法中步进式的过程引入的不必要的电子剂量，同时利用cPEDT收集到的数据也可以进行动力学精修从而确定材料的精确结构。该方法可以促进三维电子衍射在一些电子束敏感材料上的应用，如，金属‑有机框架材料（Metal‑Organic Frameworks,MOFs）、共价有机框架材料（Covalence Organic Frameworks,COFs）及一些有机物、无机物晶体等。 | ||
| 搜索关键词： | 连续 旋转 电子衍射 断层 扫描 方法 | ||
【主权项】：
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