[发明专利]陶瓷外壳电源地电阻的测试方法在审
| 申请号： | 202111657416.7 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114325116A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李航舟;杨振涛;高岭;刘洋;段强;郭志伟;刘冰倩 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R27/20 | 分类号： | G01R27/20 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 李荣文 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供一种陶瓷外壳电源地电阻的测试方法，陶瓷外壳包括一陶瓷底座，其中陶瓷底座上设有一密封腔，在密封腔内设有多个键合指、陶瓷底座的下表面设有与键合指对应电连接的焊盘，陶瓷外壳电源地电阻的测试方法包括以下步骤：选取其中的2个以上键合指作为测试用键合指，并将测试用键合指电连接至一第一金属片表面；选取与测试用键合指相对应电连接的焊盘植锡球，并将锡球与第二金属片表面键合；测试第一金属片和第二金属片之间的电阻，得到电源地电阻。从而可以实现毫欧级电源地电阻的测试，且测试方法简单，无须采用专用的测试工具即可进行测试，可作为小电阻20mΩ以下的电源地电阻的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷 外壳 源地 电阻 测试 方法 | ||
【主权项】：
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