[发明专利]一种激光切割硅晶片的方法在审
申请号: | 202111668297.5 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN114083155A | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 蒋仕彬 | 申请(专利权)人: | 杭州银湖激光科技有限公司 |
主分类号: | B23K26/38 | 分类号: | B23K26/38;B23K26/402;B23K26/70 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 陶海锋 |
地址: | 311400 浙江省杭州市富阳区银*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种激光切割硅晶片的方法,其特征在于包括以下步骤:(1)提供一波长在2.0±0.2微米的光纤激光器,光纤激光器输出脉冲宽度不大于100纳秒的脉冲激光束;(2)将脉冲激光束透过待切割硅晶片聚焦至底面,自下而上移动聚焦点形成一个纵向裂纹;(3)移动聚焦点至切割轨迹的下一个位置;(4)重复步骤(2)和步骤(3),直至形成切割包络;(5)裂片,完成对硅晶片的切割。本发明减小了热影响区,特别适合于对光伏电池使用的硅晶片的切割。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 切割 晶片 方法 | ||
【主权项】:
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