[发明专利]一种激光切割硅晶片的方法在审

专利信息
申请号: 202111668297.5 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114083155A 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 蒋仕彬 申请(专利权)人: 杭州银湖激光科技有限公司
主分类号: B23K26/38 分类号: B23K26/38;B23K26/402;B23K26/70
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 311400 浙江省杭州市富阳区银*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种激光切割硅晶片的方法,其特征在于包括以下步骤:(1)提供一波长在2.0±0.2微米的光纤激光器,光纤激光器输出脉冲宽度不大于100纳秒的脉冲激光束;(2)将脉冲激光束透过待切割硅晶片聚焦至底面,自下而上移动聚焦点形成一个纵向裂纹;(3)移动聚焦点至切割轨迹的下一个位置;(4)重复步骤(2)和步骤(3),直至形成切割包络;(5)裂片,完成对硅晶片的切割。本发明减小了热影响区,特别适合于对光伏电池使用的硅晶片的切割。
搜索关键词: 一种 激光 切割 晶片 方法
【主权项】:
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