[发明专利]一种用于平面波导芯片的多工位并行扫描测试方法及系统在审
| 申请号： | 202111670854.7 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114279681A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘延文 | 申请（专利权）人： | 深圳光泰通信设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01R21/00;G01J3/28 |
| 代理公司： | 广州凯东知识产权代理有限公司 44259 | 代理人： | 叶镇豪 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于平面波导芯片的多工位并行扫描测试方法及系统，方法包括设置可调激光器的扫描参数，并依据所述扫描参数计算出工位的采集点数，多个工位功率计发送指令至服务器，服务器接收指令后向各个工位功率计插入一个标志数据，可调激光器和各个工位功率计依据各自的标志数据和工位采集点数对平面波导芯片进行功率采集，并将采集到的功率发送至服务器中，服务器依据标志数据进行数据处理，得到各个工位的芯片光谱图，从而实现多工位并行扫描测试；通过向各个工位功率计插入一个标志数据，能够实现各个工位功率计和可调激光器的实时同步，从而实现一台可调激光器匹配多个工位的效果，进而大大降低测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 平面 波导 芯片 多工位 并行 扫描 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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