[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111671524.X | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114332050A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 吴华 | 申请（专利权）人： | 杭州申昊科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/73;G06V20/17;G06V10/74 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 彭星 |
| 地址： | 311212 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，其中，该方法包括：提取待检测图像中目标物体的第一图像特征；根据第一图像特征与第二图像特征的相似性，在包含标准图像的数据库中筛选预设数量的目标标准图像，其中，第二图像特征为标准图像中指定物体的图像特征；针对待检测图像中的每一个像素位置，提取该像素位置的第一金字塔特征和目标标准图像中参照位置的第二金字塔特征；根据第一金字塔特征和第二金字塔特征，确定待检测图像中目标物体的缺陷位置；通过上述方法，有利于降低巡检人员的工作强度，减少其任务量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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