[发明专利]一种观测系统对全球电离层数据同化性能的影响评估方法有效
| 申请号： | 202111675121.2 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114417580B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 欧明;陈龙江;杨升高;许娜;王妍;吴家燕;陈亮;熊雯;冯健;甄卫民 | 申请（专利权）人： | 中国电波传播研究所（中国电子科技集团公司第二十二研究所） |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01S19/37;G01W1/10;G06F111/10 |
| 代理公司： | 青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙) 37317 | 代理人： | 封代臣 |
| 地址： | 266107 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种观测系统对全球电离层数据同化性能的影响评估方法，包括如下步骤：步骤A，地基和天基观测系统基本参数输入；步骤B，GNSS卫星和LEO掩星卫星的轨道坐标计算；步骤C，地基和天基电离层观测数据仿真；步骤D，基于Kalman滤波的全球电离层数据同化；步骤E，电离层TEC和电子密度同化性能评估。本发明所公开的方法，对观测系统采用仿真试验手段（OSSE），利用NeQuick模型模拟生成不同观测手段“真实”的观测数据，同时基于Kalman滤波同化算法对各种观测系统的观测数据进行同化处理，并采用总电子含量（TEC）和电子密度（Ne）的技术分（Skill Score）评估方法，对各类观测系统及其组合对全球电离层数据同化性能的影响进行定量评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 观测 系统 全球 电离层 数据 同化 性能 影响 评估 方法 | ||
【主权项】：
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