[发明专利]一种回归测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202111681752.5 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN116414683A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 张超;刘耀东;宁锐;胡元港;万鑫;谭艳华;彭国刊;刘杰;王孟飞;郑世豪 | 申请（专利权）人： | 北京字跳网络技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人： | 吴崇 |
| 地址： | 100190 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例涉及一种回归测试方法、装置、设备及介质，其中该方法包括：获取目标应用程序的待测组件，待测组件为目标应用程序的代码进行组件化之后的多个组件中的任意一个；确定待测组件的组件类型，并根据组件类型确定对应的回归测试策略；采用待测组件的回归测试策略对待测组件的变更部分进行回归测试。采用上述技术方案，将应用程序的代码的多个组件根据组件类型确定其对应的回归测试策略，并采用不同的回归测试策略对组件的变更部分进行回归测试，实现了通用的多策略精准回归测试，既能够保障质量不劣化，而且节省了回归测试的人力成本，极大提升了回归测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 回归 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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