[实用新型]一种纳米孔测序实验台有效

专利信息
申请号: 202120066582.9 申请日: 2021-01-11
公开(公告)号: CN214991565U 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 刘先林;胡岚 申请(专利权)人: 苏州罗岛纳米科技有限公司
主分类号: C12M1/34 分类号: C12M1/34;C12M1/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 常亮
地址: 215000 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种纳米孔测序实验台,包括:基座;整机固定基体,整机固定基体安装在基座上,整机固定基体顶端的基板上固定有下液池,且下液池上安装有玻片;三维精密位移台及压电促动器,三维精密位移台安装在整机固定基体上,三维精密位移台的横梁上连接有上液池,压电促动器安装在三维精密位移台上,用于驱动三维精密位移台的横梁沿着Z轴上下移动,上液池位于下液池的上方,上液池上固定有开设有纳米孔的芯片;倒置显微镜,倒置显微镜倒置安装在基座上,用于观察整个实验过程,进而实现了对单分子链穿过纳米孔的情况的观察。本实用新型实现了单分子链穿过纳米孔的精确控制。
搜索关键词: 一种 纳米 孔测序 实验
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