[实用新型]一种芯片IO检测装置

摘要

本实用新型涉及芯片检测技术领域，且公开了一种芯片IO检测装置，包括底座，所述底座的底部两侧均固定安装有支架，所述支架的底部固定安装有底块，所述底座的前侧固定安装有控制开关，所述底座的顶部一侧固定安装有立板，所述立板的一侧固定安装有顶板，所述底座的顶部靠近立板的一侧固定安装有检测台，所述检测台的前侧开设有放置口。该芯片IO检测装置，可以避免芯片在放置腔中出现位移，从而避免芯片的放置位置出现偏差，避免检测装置在检测时出现误差，从而提高了对芯片的检测精度，可以二次降低检测探针对芯片检测时的压力，避免检测探针的压力对放置腔中的芯片造成损坏，避免对芯片的正常使用造成影响。