[实用新型]一种用于元器件测试的高频测试装置

摘要

本实用新型提供一种用于元器件测试的高频测试装置，其包括测试板、固定件、微带线以及金属弹片，固定件为长方体结构，固定件固定在测试板上，金属弹片借助于固定件固定在测试板上形成金属探测针，金属弹片设置有两个；两个金属弹片的第一端部借助于固定件固定在微带线上，微带线固定在测试板上，两个金属弹片的第二个端部能够相对于测试板压下或弹起，与两个金属弹片的第二端部相对于的测试板的位置固定有待测物品，当两个金属弹片的第二端压下时，两个金属弹片的第二端与待测物品接触。其利用弹片结构代替传统的导电胶结构，具有较高的强度、耐受度和稳定性，并且具有测试效果好，测试精度高的优点。