[实用新型]MicroLED缺陷检测柔性探头有效
申请号: | 202120158758.3 | 申请日: | 2021-01-19 |
公开(公告)号: | CN214585852U | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 黄显;杨晴 | 申请(专利权)人: | 浙江清华柔性电子技术研究院 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G02F1/13 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 李萌 |
地址: | 314006 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种MicroLED缺陷检测柔性探头,该探头包括柔性基底及柔性电路膜层,所述柔性基底包括柔性基板及位于所述柔性基板上的柔性凸起部,所述柔性电路膜层内设置有用于点亮待检测MicroLED,所述柔性电路膜层贴附于所述柔性基底设置有所述柔性凸起部的一侧的表面上,且至少有一部分所述柔性电路膜层的线路位于所述柔性凸起部上,当所述MicroLED缺陷检测柔性探头放置于MicroLED上时,所述柔性凸起部上的所述线路抵靠于待检测MicroLED的引脚上,且与所述引脚电性相连。该探头能够在完成MicroLED电气连接前即可对MicroLED进行检测。 | ||
搜索关键词: | microled 缺陷 检测 柔性 探头 | ||
【主权项】:
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