[实用新型]一种霍尔元件三维磁场测试装置有效

专利信息
申请号: 202120269234.1 申请日: 2021-01-29
公开(公告)号: CN215067240U 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 茹建成 申请(专利权)人: 绍兴千欣电子技术有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 代理人: 刘富艳
地址: 312000 浙江省绍兴市越城区朝皇路2*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种霍尔元件三维磁场测试装置,包括支架和测试台,支架用于支撑测试台,测试台上设有三组线圈,三组线圈分别为X轴线圈组、Y轴线圈组和Z轴线圈组,X轴线圈组、Y轴线圈组和Z轴线圈组的磁场方向在空间内相互垂直,X轴线圈组和Y轴线圈组之间设有承台,承台用于放置需要测试的元件,测试台上设有电路板,电路板位于线圈组的下方,电路板用于反馈测试结果,本实用新型结构合理,通过三组线圈构成一个三维磁场,将原件放入到承台内后,即可以对芯片的三个方向的磁场进行测试,无需进行多次测试,提高检测效率。
搜索关键词: 一种 霍尔 元件 三维 磁场 测试 装置
【主权项】:
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