[实用新型]一种集成电路测试载板有效

专利信息
申请号: 202120397048.6 申请日: 2021-02-23
公开(公告)号: CN214750426U 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 沈彩平;杨丽娟 申请(专利权)人: 南京艾盛微电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 合肥律众知识产权代理有限公司 34147 代理人: 殷娟
地址: 210000 江苏省南京市江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种集成电路测试载板,包括测试载板本体,所述测试载板本体上设置有若干个第一插槽和与第一插槽并排设置的若干个第二插槽,所述测试载板本体上滑动设置有若干块盖合在第一插槽和第二插槽上方的盖板,所述每一个所述盖板上均设置有一个第一延伸孔和一个第二延伸孔,当若干块所述盖板聚拢贴合时所述第一延伸孔与第一插槽相对,当若干块所述盖板彼此远离时,所述第二延伸孔与一部分第二插槽相对。采用第一插槽和第二插槽两种测试方式,且两种测试方式可自由切换使用方便;无论是利用第一插槽还是利用第二插槽均可一次性测试若干个集成电路,提升工作效率。
搜索关键词: 一种 集成电路 测试
【主权项】:
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