[实用新型]一种芯片检测系统有效
申请号: | 202120417199.3 | 申请日: | 2021-02-25 |
公开(公告)号: | CN214812740U | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 杨胜利 | 申请(专利权)人: | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张帆 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开一种芯片检测系统,该检测系统包括:转运单元,位于转运单元一侧的上料单元以及位于转运单元的背离上料单元一侧的多个检测单元;其中,上料单元被配置为用于将芯片托盘运送至转运单元;转运单元被配置为用于将芯片托盘转送至多个检测单元,和将芯片托盘由多个检测单元转送出;多个检测单元被配置为对芯片托盘上的芯片进行检测。本申请提供的芯片检测系统,通过设计多个检测单元,可使得整个系统的大小得到控制,节约厂房占地,并成倍提高了检测效率,节约整体检测成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 检测 系统 | ||
【主权项】:
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