[实用新型]老化测试装置有效
| 申请号： | 202120464433.8 | 申请日： | 2021-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN215415510U | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 祝占伟;郭志诚;翁水才;谢周阳 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 赵洁修 |
| 地址： | 310051 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种芯片的老化测试设备结构，特别是涉及一种老化测试装置，包括老化测试单元及背板单元，所述老化测试装置还包括用于对所述老化测试单元的运动进行导向定位的导向定位单元，所述导向定位单元包括：导向滑槽，设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的一者，并沿所述老化测试单元相对所述背板单元运动的方向延伸；滚动支撑组件，设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的另一者上，并能够随所述老化测试单元的运动沿所述导向滑槽的延伸方向滚动，导向滑槽与滚动支撑件之间滚动配合，并且能够引导老化测试单元与背板单元沿导向滑槽的延伸方向相对运动，因此，老化测试单元在插装的过程更加省力，且导向定位的精度也更高。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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