[实用新型]芯片封装结构和半导体器件有效

专利信息
申请号: 202120610292.6 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN214378387U 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 高见头;王可;孙澎;蔡小五;赵发展 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L23/02 分类号: H01L23/02;H01L23/10;H01L23/48
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 房德权
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例提供了一种芯片封装结构和半导体器件,芯片封装结构包括:壳体;芯片过渡板,设置在壳体内;键合片,设置在壳体内,位于芯片过渡板的一侧;绝缘子,至少部分绝缘子设置在壳体和键合片之间。该芯片封装结构,部分绝缘子设置在壳体和键合片之间,一方面绝缘子可以起到隔绝键合片和壳体的作用,保障了键合片与设置在芯片过渡板上的芯片之间通信的稳定性;另一方面,绝缘子可以起到支撑键合片的作用,能够避免键合片出现位移或塌陷,便于将键合线键合在键合片上,特别适用于键合线径较粗的键合线。在封装过程中,芯片设置在芯片过渡板上;芯片通过键合线与键合片键合,能够大大增加了键合线可键合的面积,提高过流能力,可以容纳线径更粗的键合线。
搜索关键词: 芯片 封装 结构 半导体器件
【主权项】:
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