[实用新型]微波器件高温反偏老化测试系统有效
| 申请号： | 202120702091.9 | 申请日： | 2021-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN214750606U | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 陈益敏 | 申请（专利权）人： | 杭州高裕电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 | 代理人： | 沈相权;金磊 |
| 地址： | 311107 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型属于测试技术领域，尤其为微波器件高温反偏老化测试系统，包括壳体，壳体的材质为铝合金，壳体的内侧面固定安装有散热翅片，壳体的前端面转动安装有门板，门板的后端面粘贴有耐磨软垫，耐磨软垫的材质为丁基橡胶，门板的内侧面固定安装有把手，把手的材质为钛合金，门板的内侧面转动安装有合页，门板的下端面固定安装有第一散热孔，把手远离第一散热孔的一侧固定安装有安全警告标识，指示灯的下端面固定安装有显示屏。本实用新型通过设置散热翅片，加快测试系统与外界交换气体的速度，使测试系统内的热量及时排出，避免器件被损坏，通过设置耐磨软垫，在门板与壳体撞击时得到缓冲，减少门板被损坏的可能，延长门板的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 器件 高温 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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