[实用新型]芯片测试座有效
申请号: | 202120939515.3 | 申请日: | 2021-05-06 |
公开(公告)号: | CN213398670U | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
发明(设计)人: | 张勇文;袁小云 | 申请(专利权)人: | 四川蕊源集成电路科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 封浪 |
地址: | 611730 四川省成都市郫都区成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片测试座,涉及芯片测试技术领域,它包括连接在测试电路板上的连接座、与连接座连接的固定座和安装座;固定座上设置有弹性件,安装座固定在弹性件上,且其上安装有芯片。连接座安装在测试电路板的正上方,固定座和安装座设置在连接座上,也位于测试电路板的正上方,向安装座施加向下的压力,安装座压缩弹性件,带动位于安装座上的芯片向靠近测试电路板的方向移动,使得芯片的引脚能够接触到测试电路板的对应触点。测试电路板通电顺序就不需要严格固定,使用本测试座测试芯片时不会完全依赖于操作人员的经验,对于经验不足的操作人员,也会快速进入测试状态,相对提高测试芯片的速度,进而减少对测试效率的影响。 | ||
搜索关键词: | 芯片 测试 | ||
【主权项】:
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