[实用新型]一种单晶体及硅片厚度变化检测设备

摘要

本实用新型公开了一种单晶体及硅片厚度变化检测设备，包括设备主体，所述设备主体上设有检测器，且检测器上设有检测头，所述设备主体上固定安装有检测放置板，且设备主体的内部设有步进电机，所述设备主体上设有转盘，所述设备主体上设置有固定架。本实用新型所述的一种单晶体及硅片厚度变化检测设备，属于厚度检测设备领域，通过设置的转盘、固定架等结构，在对物体进行边缘位置处监测点进行检测时，可以保证检测点的精准性，利用固定架进行物体的固定工作，固定架中设置旋转压块，既保障了物体旋转时的稳定性，又不妨碍物体正常旋转，限位件可以进行拆卸，方便对橡胶块进行更换，保障了使用效果。