[实用新型]一种自动化芯片测试装置有效
| 申请号： | 202121202869.6 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN214953621U | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 王淑琴 | 申请（专利权）人： | 成都市汉桐集成技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 许驰 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种自动化芯片测试装置，其结构包括测试槽、框架、机体、限位板、垫块、位移式操作台、电控箱，本实用新型的限位板内侧凹槽相导接位移式操作台，框座与表面台板组合相连一体，前壁扣槽块是能够带动框座移动的支点块，第一壁条与第二壁条上设有多个内嵌式滑珠，对应嵌槽位置间隔排列，表面可滚接限位板内侧凹槽与框架一内壁，直线外移台体后，能够方便工作人员对框架内槽进行清洁，死角位置灰尘也能清除掉，降低了因灰尘受到的静电影响，能够有效提高装置使用的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动化 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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