[实用新型]一种芯片测试装置

摘要

本实用新型涉及电子设备技术领域，公开了一种芯片测试装置，包括有测试板，所述测试板设置有用于连接芯片的安装位，所述安装位上设有用于压紧芯片的滑盖，所述滑盖滑动连接于所述安装位上。在本实用新型中，该装置减少了每个芯片对应连接的揿盖压块装置，改用滑盖式设计，推动滑盖即可压紧芯片，使芯片位于安装位内直接与线路板接触，成品更为轻薄，这样就可以使线路板的尺寸无需增大，避免信号完整性降低，且结构简单，降低生产成本，减少产品整体厚度，能够多个产品同时插入到通用主板上面小间隙的排布的插槽内，增加插槽利用率，提高测试效率。