[实用新型]一种芯片测试用快速定位治具

摘要

本实用新型公开了一种芯片测试用快速定位治具，其特征在于：包括支撑板、定位板及压盖，所述定位板设置于所述支撑板的正上方，所述定位板的中部设有产品放置区，所述压盖转动的安装于所述产品放置区上方的定位板上；所述支撑板及定位板的前端、后端分别设有多组定位螺孔，所述支撑板及定位板经螺栓穿过所述定位螺孔进行连接限位；所述压盖的后端经一转轴与所述定位板转动相连，所述压盖的底面抵于所述定位板的顶面上，且所述压盖设置于所述产品放置区的正上方；所述产品放置区前端的定位板上设有一立板，所述压盖的前端面上设有一限位机构，所述压盖经所述限位机构与所述立板相连。本实用新型提高了芯片测试定位效率及质量，也提高了测试效率。