[实用新型]一种棱线测量装置有效

专利信息
申请号: 202121443305.1 申请日: 2021-06-28
公开(公告)号: CN215217499U 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 杨明伟;江保军;鲍景明;徐阵涛;苗顺占 申请(专利权)人: 中国核电工程有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 罗建民;邓伯英
地址: 100840 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开一种棱线测量装置,包括固定机构、测量机构、立柱,固定机构用于固定待测量组件,立柱设于待测量组件的一侧,测量机构包括测量框架和棱线测量单元,测量框架安装在立柱上,棱线测量单元包括测量底座、测量驱动组件、激光位移传感器、光栅尺测量组件,测量底座固定在测量框架上,测量驱动组件固定在测量底座上,激光位移传感器安装于测量驱动组件上,通过测量驱动组件带动激光位移传感器靠近待测量组件,以测量待测量组件在该截面高度的棱线数据,光栅尺测量组件,用于读取激光位移传感器的位置。所述棱线测量装置在测量时无需与待测量组件进行接触,有效地避免了对待测量组件的损伤。
搜索关键词: 一种 棱线 测量 装置
【主权项】:
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