[实用新型]一种半导体器件的试验夹具有效
| 申请号： | 202121579565.1 | 申请日： | 2021-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN215866790U | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 林楹镇;刘石头;付永佩;张胜峰 | 申请（专利权）人： | 深圳市时代速信科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郭浩辉;颜希文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及半导体器件试验技术领域，公开了一种半导体器件的试验夹具，包括PCB板和设置于PCB板上的第一防自激电路和第二防自激电路；PCB板上设置有器件端口，器件端口包括器件栅极端口和器件漏极端口；PCB板上还设置有第一栅极端口、第一漏极端口、射频输入端口和射频输出端口；射频输入端口和第一栅极端口均通过第一防自激电路与器件栅极端口连接，射频输出端口和第一漏极端口均通过第二防自激电路与器件漏极端口连接。有益效果：当进行半导体器件的可靠性实验时，通过第一防自激电路和第二防自激电路克服半导体器件的自激问题。由电容、电阻组成的匹配电路，同时满足了器件性能测试要求，可直接使用该夹具进行半导体器件实验后性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体器件 试验 夹具 | ||
【主权项】：
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