[实用新型]一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构有效
| 申请号： | 202121640244.8 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN214988415U | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 张博 | 申请（专利权）人： | 深圳市惟禾自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/248 | 分类号： | B65G47/248;B65G15/30;G01N21/95 |
| 代理公司： | 深圳市众元信科专利代理有限公司 44757 | 代理人： | 刘莹莹 |
| 地址： | 518103 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片外观检测技术领域，具体的说是一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，包括支撑柜，所述支撑柜一侧固定连接有第二传输机，所述第二传输机一侧固定连接有第一传输机，所述第一传输机和第二传输机上侧分别设有传送带，所述支撑柜上表面固定安装有翻转组件，所述翻转组件一侧固定连接有夹具；通过第一传输机可以进行芯片传输，通过翻转组件一侧固定连接有夹具可以将第一传输机上的芯片进行夹取，通过翻转组件进行翻面操作，然后松开夹具，使得芯片掉落至第二传输机的传送带，使得使用者可以通过本实用新型完成对芯片翻转，不需要人工进行芯片翻面，加快了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 sop8 芯片 外观 检测 自动 机构 | ||
【主权项】：
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